linnppc (Joy)
2015/08/03 22:19 #1
Derek (阿德)
2015/08/04 09:23 #2
JOY大要開講了 期待!
linnppc (Joy)
2015/08/05 23:47 #3
Derek :
JOY大要開講了 期待!
從今年年初的時候就一直希望打造一對可以承受大功率的喇叭,兩音路設計,小型書架型喇叭,挑單體總是一個最困難的地方,後來最後的決定是採用了75mm大音圈的單體
linnppc (Joy)
2015/08/05 23:48 #4
linnppc :
從今年年初的時候就一直希望打造一對可以承受大功率的喇叭,兩音路設計,小型書架型喇叭,挑單體總是一個最困難的地方,後來最後的決定是採用了75mm大音圈的單體
大音圈的設計有幾個優點
下圖圖左圖右可以看到兩個磁鐵的BL Curve與磁感線分布
LANCEREVO (兩百過彎)
2015/08/07 10:13 #5
真專業...看來有好東西要出現了!
linnppc (Joy)
2015/08/09 13:50 #6
LANCEREVO :
真專業...看來有好東西要出現了!
在高音單體設計上的訴求,目前我們有三個 1.低F0 2.高音壓 3.絲質振膜
1.喇叭高音單體與低音單體的銜接上,會希望喇叭單體的F0可以低一點,分頻點一般都會建議到F0的兩到三倍,如果F0低一點的話在銜接上會有比較大的範圍可以做選擇。
2.喇叭單體採用的是34mm大音圈的設計,高靈敏度的設計,可以想像一下擴大機去動喇叭單體,如果靈敏度越高,對擴大機來說就越輕鬆,擴大機推動喇叭單體必須一倍的功率才可以增加3dB的音壓,假如1M/1W下測試單體靈敏度90dB,跟一顆1M/1W測試靈敏度96dB,如果前著需要達到96dB,他就需要4W的功率,這在實際上的應用差異是很大的,所以靈敏度越高對設計上來說比較有優勢,像是Daniel Hertz的號角喇叭靈敏度就非常的高,也就是你的擴大機只需要小小的推力,就可以發出很大的音壓
3.為什麼我們採用絲質振膜??絲質振膜跟金屬振膜比較起來他比較沒有所謂的震鈴現象,在聽感上會有些影響,要降低這個震鈴現象只有一個方法就是把高音喇叭的共振頻率點拉到30kHz以上,使人比較不容易發覺,實際上一些現象,可以參考下列網站Hi-AV影音網所寫的
這款高音喇叭單體也有使用目前最先進的Klippel SCN系統做分析,來判斷一些問題,實際上有也有一些動畫影片可以看到喇叭單體實際上運作的狀況,不過不方便PO再網路上,所以要請各位要直接去音響展看囉!!
下圖是喇叭單體的阻抗曲線大約在800Hz左右
UFO (想不到暱稱)
2015/08/10 17:19 #7
這單體很漂亮! joy大辛苦了!
linnppc (Joy)
2015/08/10 23:17 #8
UFO :
這單體很漂亮! joy大辛苦了!
這喇叭很好聽呢!!!去音響展可以聽到唷
在喇叭設計的部分跟之前設計的Dimond一樣,如果是應用網路上面的電子曲線計算出來的結果,不結合喇叭頻率響應與阻抗曲線的差異的話,實際上參考的價值非常的低,因為裝起來後,聽起來的聲音會差非常的多,下面第一張圖就是不使用實際測量的頻率響應與阻抗曲線所模擬出來的結果
下面這款是結合了喇叭單體實際上測量結果的曲線跟電子曲線結合在一起的結果,跟實際上的數據比較相近
因為目前這款產品還沒有開始販售,到時候開始販售的時候會公布電子電路的設計,這款喇叭有個特殊的地方,就是在聲音的微調上,裡面有電路可以做簡單的修改,對音色就會有些改變
設計喇叭的時候必須注重每一個細節,才不會到時候做出來東西錯了,搞不清楚,開始亂抓問題,分音器在喇叭設計裡面算是非常複雜的一環,所以修改完了要試聽之前一定要仔細的驗證一下,可以看一下下圖是我們與上面計算出來的結果是非常相近的。
實際接上喇叭實際測量的數據非常的不錯,低頻延伸相當的好,這也就是我們使用大音圈中低音單體,低fs所帶來的效果,可以看到紅色取線為喇叭正面面板1M 1W所測試出來的數據,綠色曲線為低音反射孔所輸出之曲線
當然當初設計的時候,考慮了對擴大機要有親和力一點,不要太難驅動,才不會買回家發現喇叭雖然不貴,但是要推的好擴大機一台十幾萬甚至幾十萬,這樣子好像也不是很恰當,下面是這款喇叭的阻抗曲線圖,最低阻抗3.78 歐姆 最高16 歐姆左右,我想一般的擴大機要驅動問題並不大
life888 (life888)
2015/08/11 01:40 #9
JOY大大的文章根本是專家級的!
kevinlin (林凱文)
2015/08/11 18:55 #10
life888 :
JOY大大的文章根本是專家級的!
我音響展一定要來看!
linnppc (Joy)
2015/08/11 22:07 #11
kevinlin :
我音響展一定要來看!
這單體也有使便用Klippel掃描一下大訊號LSI測試,來判斷單體一些低頻可能存在的問題,經過幾次的修正後才定案